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COMBI

Skalierbarer Kombitest

Mehr und mehr setzen sich kombinierte Testszenarien durch. Somit lassen sich heute BSCAN, FKT, FP und ICT Tests in ein und dieselbe Testlösung integrieren. Erweitert wird oft durch das gleichzeitige Beschreiben entsprechender ICs (Flash, ISP, EEPROM, etc.).

Wir erstellen Lösungen nach Ihrem Pflichtenheft.

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