Test


BST (Boundary-Scan-Test)

Test und Programmierung über Boundary-Scan-Zellen haben in den letzten Jahren in allen Bereichen der Elektronikproduktion stark an Bedeutung gewonnen, da der direkte Zugriff auf bestimmte Schaltungspunkte, bedingt durch die zunehmende Miniaturisierung und erhöhte Packungsdichten, immer schwieriger wird.

Mit Boundary-Scan steht nun eine kostengünstige, bewährte und zuverlässige Test- und Programmiermethode zur Verfügung, die wir entweder als Einzelteststand oder in Verbindung mit unseren ICT-/FKT-Systemen und -Projekten, anbieten und integrieren können. Es eignet sich perfekt, um auch komplexe Baugruppen mit minimalen Zugriffsmöglichkeiten akkurat zu testen und zu programmieren.

Mit unserem US-amerikanischen Partner Flynn Systems, einem weltweit führenden BS-Experten seit 1996, bieten wir IEEE 1149.1/1149.x konforme Hardware und Software sowie schlüsselfertige Lösungen und Dienstleistungen rund um das Thema Boundary-Scan an.

onTAP Development

Boundary-Scan-Tests

FLYNN SYSTEMS onTAP Development – Die Entwicklungsplattform für stabile und umfassende Boundary-Scan-Tests

onTAP Development beinhaltet enthält alle notwendigen Softwaretools, die Sie für die Entwicklung und Durchführung umfassender und zuverlässiger JTAG-Tests benötigen und unterstützt Sie während des ganzen Lebenszyklus‘ einer Baugruppe.

Mit über zwei Dutzend CAD-Netzlistenlesern, einem integrierten Netzlisten-Merge-Tool sowie ProScan, der grafischen Debug-Umgebung, wird onTAP Development Ihre BS-Projektentwicklungszeit massiv beschleunigen und die Entwicklungskosten reduzieren.

Hauptmerkmale:

  • Integriertes Entwicklungs- und Runtime-System
  • Importfilter für ca. 30 CAD-Formate
  • BSDL-Dateisyntax- und Semantik-Checker
  • Projektassistent
  • Automatische Erkennung der vorhandenen BS-Ketten
  • Netzlistenzusammenführung
  • Automatische Testprogrammgenerierung
  • Interconnect-Tests
  • Speicher- und Cluster-Tests, inklusive umfassende Bibliothek von DTS-Modellen für gängige DDR4, DDR3, DDR2, SRAM, SDRAM, NAND, I2C und weitere Flash-Speicher
  • Benutzerdefinierte Selbsttests (BIST)
  • Paralleltest
  • Integrierte graphische Debugoberfläche ProScan
  • Präzise Diagnose auf Pin-Ebene
  • Verschiedene onTAP-USB-Controller und Lizenzmodelle wählbar
BST (Boundary-Scan-Test)