Test

ICT (In-Circuit-Test)

Der In-Circuit-Test hat sich in den vergangenen Jahren stark verändert, ist aber – gerade im Bereich hoher Volumina – immer noch eine der zuverlässigsten Testmethoden. Als Ergänzung zu den Resultaten eines AOI-Systems, liefert er im analogen Bereich exakte Bauteilwerte und prüft integrierte digitale oder hybride Schaltungen auf deren Funktion.

Voraussetzung für eine gute ICT-Testabdeckung ist, dass die Baugruppe für dieses Testverfahren auch ausgelegt ist, was in der Realität immer schwieriger wird. Die voranschreitende Miniaturisierung, hohe Packungsdichten sowie Kostendruck machen es nicht einfacher, die benötigten Testpunkte überhaupt vorzusehen.
Unsere ICT-Systeme von Dr. Eschke zeichnen sich durch ihre hohe Skalierbarkeit aus. So kann ein für ein bestimmtes Projekt beschafftes MDA-System (MDA = Manufacturing Defect Analyzer) bei Bedarf jederzeit zu einem leistungsfähigen In-Circuit-Tester mit Digitalfunktionalität oder zu einem Funktions- oder Kombinationstestsystem hochgerüstet werden.

Mit unseren erfahrenen Applikations-Spezialisten sind wir in diesem Bereich übrigens auch als Testhaus tätig und beraten Sie auch gern, wenn Sie Fragen zum DFT, resp. zur Testbarkeit einer Baugruppe oder zur Erstellung eines In-Circuit-Testprogramms haben (DFT = Design for Testability).

CT300 Satellite

Kompaktes MDA-Testsystem

Dr. Eschke CT300 Satellite – Kompaktes MDA-Testsystem mit Flachbandkabelschnittstelle

Das Kompaktsystem CT300 Satellite eignet sich ideal für die Überprüfung der Fertigungsqualität von kleineren Baugruppen.

Hauptmerkmale:

  • 19“-Rack mit 7 Steckplätzen, Standard-Flachbandkabelschnittstelle, bis zu 720 ICT-Testpunkte
  • Wechseladapterkonzepte
  • Kleine Standfläche
  • Ideal für kleine bis mittlere Fertigungsvolumen
  • CAD-Datenimport
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Testabdeckungsanalyse
  • Papierlose Reparaturstation
  • Zahlreiche Logging- und Statistikfunktionen
  • Nutzentest
  • Paralleltest

Broschüre Dr. Eschke CT300, CT350

CT300 Meteor

Modulares Kombinationstestsystem mit Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle

Dr. Eschke CT300 Meteor – Modularer Kombinationstester mit Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle

Die CT300 Meteor lässt sich flexibel in jede beliebige Testumgebung integrieren und kann als MDA-, ICT-, FKT- oder Kombinationstester konfiguriert werden. Das großzügig bemessene Rack lässt den Einbau zahlreicher Optionen zu, um den Prüfumfang genau auf Ihre Produkte abzustimmen.

Hauptmerkmale:

  • 19“-Rack mit 21 Steckplätzen, Standard-Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle, bis zu 2.736 ICT-Testpunkte
  • Wechseladapterkonzepte
  • Ideal für mittlere bis hohe Fertigungsvolumen bei hohen Produktwechselzyklen
  • Kürzeste Testzeiten, sehr hoher Durchsatz
  • Steuerung von Inline- und Handlingsystemen
  • Grosse Auswahl an verschiedenen Analog-, Digital-, Scanner-, I/O- und Funktionstestmodulen
  • CAD-Datenimport
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Testabdeckungsanalyse
  • Papierlose Reparaturstation
  • Zahlreiche Logging- und Statistikfunktionen
  • Nutzen- und Multi-Site-Test
  • Optionen: Boundary-Scan-Test, OCR, LED-Test, In-System-Programmierung (ISP), kompatible Vakuumschnittstelle zu GenRad GR2280/81, Inline-Version, u. v. m.

Broschüre Dr. Eschke CT300, CT350

CT350 Comet-T

Modulares Kombinationstestsystem mit High-Pin-Count-Schnittstelle

Dr. Eschke CT350 Comet-T – Modularer Kombinationstester mit High-Pin-Count-Schnittstelle

Die Tischversion der CT-350-Serie lässt sich skalierbar als MDA-, ICT-, FKT- oder leistungsfähiger Kombinationstester konfigurieren und ist präzise auf jede Kundenanforderung abstimmbar. Die High-Pin-Count-Pylon-Schnittstelle begünstigt den schnellen Adapterwechsel und sorgt für eine zuverlässige Kontaktierung.

Hauptmerkmale:

  • 21 Steckplätze, High-Pin-Count-Schnittstelle, bis zu 2.736 ICT-Testpunkte
  • Ideal für mittlere bis hohe Fertigungsvolumen bei hohen Produktwechselzyklen
  • Kürzeste Testzeiten, sehr hoher Durchsatz
  • Grosse Auswahl an verschiedenen Analog-, Digital-, Scanner-, I/O- und Funktionstestmodulen
  • Sehr gutes Preis-/Leistungsverhältnis
  • CAD-Datenimport
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Testabdeckungsanalyse
  • Papierlose Reparaturstation
  • Zahlreiche Logging- und Statistikfunktionen
  • Nutzen- und Multi-Site-Test

Optionen: Boundary-Scan-Test, OCR, LED-Test, In-System-Programmierung (ISP), zusätzliches Power-Rack, u. v. m.

Broschüre Dr. Eschke CT300, CT350

FKT (Funktionstest)

Funktionstests sind die Königsdisziplin der Teststrategien. Wir arbeiten mit standardisierten Lösungen der Anbieter Dr. Eschke und IPSES. Diese sind optimiert für Funktionstests in den Branchen Automotive, weiße und braune Ware, Medizintechnik, Luft- und Raumfahrt, Verteidigungsstechnik sowie Informations- und Kommunikationstechnik.

Dr. Eschke ist der Spezialist für die Kombination von In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstest (FKT) in skalierbarer Bauweise.

IPSES, ein international renommierter Anbieter aus Italien, verfügt über eine Vielzahl von Zertifizierungen und Zulassungen im Systemumfeld und baut komplexe Funktionstestsysteme exakt nach Kundenanforderung.

Funktionstestplattformen

IPSES Funktionstestplattformen

Gemeinsam mit IPSES, einem „National Instruments Silver Alliance“-Partner, realisieren wir für unsere Kunden maßgeschneiderte Funktionstestlösungen und bieten Dienstleistungen mit technologischem und wirtschaftlichem Mehrwert an. Dabei hat der Kunde die Möglichkeit, entweder das gesamte Projekt, oder auch nur Teile davon, an unsere Mitarbeiter auszulagern.

Das können Sie erwarten:

  • Projektierung, Design und Definition der gesamten FKT-Systemarchitektur
  • Entwicklung der dazugehörenden Firmware, Hardware und Software
  • Integration der Hard- und Software, einschließlich Produkte von Drittanbietern
  • Umfassende Erfahrung in Nutzung und Integration von NI-Hardware (CompactRIO, sbRIO, PXI, CAN, DAQ, etc.) und Software (LabWindows/CVI, LabView, TestStand)
  • Große Auswahl an eigenen Produkten, wie z.B. I/O-Karten, Datenloggerkarten, etc.
  • Entwicklung einer kundenspezifischen Benutzeroberfläche
  • Entwicklung von Prüfkriterien und Durchführung von Abnahmeprüfungen
  • Management von den zum System gehörenden Zertifizierungsprozessen
  • Installation und Integration in die Produktionslinien des Kunden
  • Serviceunterstützung vor Ort

CT300 Meteor

Modulares Kombinationstestsystem mit Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle

Dr. Eschke CT300 Meteor – Modularer Kombinationstester mit Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle

Die CT300 Meteor lässt sich flexibel in jede beliebige Testumgebung integrieren und kann als MDA-, ICT-, FKT- oder Kombinationstester konfiguriert werden. Das großzügig bemessene Rack lässt den Einbau zahlreicher Optionen zu, um den Prüfumfang genau auf Ihre Produkte abzustimmen.

Hauptmerkmale:

  • 19“-Rack mit 21 Steckplätzen, Standard-Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle, bis zu 2.736 ICT-Testpunkte
  • Wechseladapterkonzepte
  • Ideal für mittlere bis hohe Fertigungsvolumen bei hohen Produktwechselzyklen
  • Kürzeste Testzeiten, sehr hoher Durchsatz
  • Steuerung von Inline- und Handlingsystemen
  • Grosse Auswahl an verschiedenen Analog-, Digital-, Scanner-, I/O- und Funktionstestmodulen
  • CAD-Datenimport
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Testabdeckungsanalyse
  • Papierlose Reparaturstation
  • Zahlreiche Logging- und Statistikfunktionen
  • Nutzen- und Multi-Site-Test
  • Optionen: Boundary-Scan-Test, OCR, LED-Test, In-System-Programmierung (ISP), kompatible Vakuumschnittstelle zu GenRad GR2280/81, Inline-Version, u. v. m.

Broschüre Dr. Eschke CT300, CT350

CT350 Comet-T

Modulares Kombinationstestsystem mit High-Pin-Count-Schnittstelle

Dr. Eschke CT350 Comet-T – Modularer Kombinationstester mit High-Pin-Count-Schnittstelle

Die Tischversion der CT-350-Serie lässt sich skalierbar als MDA-, ICT-, FKT- oder leistungsfähiger Kombinationstester konfigurieren und ist präzise auf jede Kundenanforderung abstimmbar. Die High-Pin-Count-Pylon-Schnittstelle begünstigt den schnellen Adapterwechsel und sorgt für eine zuverlässige Kontaktierung.

Hauptmerkmale:

  • 21 Steckplätze, High-Pin-Count-Schnittstelle, bis zu 2.736 ICT-Testpunkte
  • Ideal für mittlere bis hohe Fertigungsvolumen bei hohen Produktwechselzyklen
  • Kürzeste Testzeiten, sehr hoher Durchsatz
  • Grosse Auswahl an verschiedenen Analog-, Digital-, Scanner-, I/O- und Funktionstestmodulen
  • Sehr gutes Preis-/Leistungsverhältnis
  • CAD-Datenimport
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Testabdeckungsanalyse
  • Papierlose Reparaturstation
  • Zahlreiche Logging- und Statistikfunktionen
  • Nutzen- und Multi-Site-Test

Optionen: Boundary-Scan-Test, OCR, LED-Test, In-System-Programmierung (ISP), zusätzliches Power-Rack, u. v. m.

Broschüre Dr. Eschke CT300, CT350

FPT (Flying-Probe-Test)

Wenn elektrische Tests für Prototypen sowie kleine und mittlere Serien gefragt sind, bietet sich ein Flying-Probe-Testsystem als die richtige Teststrategie an.

Da die Kontaktierung mit dem Prüfling über 4 bis 10 fliegende Messsonden erfolgt, entfallen die langen Wartezeiten und Kosten für die Erstellung eines Nadelbettadapters. FP-Testsysteme haben zudem den Vorteil, dass auch Baugruppen geprüft werden können, die nicht streng nach den DFT-Regeln (DFT = Design for Testability) entwickelt worden sind oder die Platzverhältnisse das Setzen von Testpunkten nicht zugelassen hat.

Um die Testabdeckung weiter zu steigern, kann der Standard-FPT mit einer Vielzahl von zusätzlichen Testverfahren ergänzt werden, wie z.B.: IC-Open-Tests, optische Prüfungen, Farb- und Intensitätstests von LED, Funktionstests, u. v. m.

Als Teil des Partnernetzwerks von SYSTECH Europe bieten wir die weltweit schnellsten und innovativsten Flying-Probe-Testsysteme des japanischen Herstellers TAKAYA an.

Bereits 1987 stellte TAKAYA das weltweit erste FP-Testsystem vor, eine Innovation, die nachhaltig die Prüfstrategien in fast allen Bereichen der Elektronikindustrie verändert hat. Und auch heute noch versteht es TAKAYA wie kein anderer, präzise Mechanik und hochgenaue Messeinrichtungen in einem System zu kombinieren.

Falls Sie noch kein eigenes Flying-Probe-Testsystem einsetzen, bieten wir übrigens auch einen preislich attraktiven FP-Testservice mit kurzen Umschlagzeiten an.

APT-1600FD

Beidseitiger Test mit 10 fliegenden Messsonden

TAKAYA APT-1600FD – 10 fliegende Messsonden für unschlagbare Testabdeckung von beiden Seiten

Die TAKAYA APT-1600FD ist das neuste Flying-Probe-Testsystem aus dem Hause TAKAYA. Es prüft mit zehn fliegenden Nadeln die Baugruppen gleichzeitig von der Ober- und Unterseite, verfügt über ein Laser-Höhenmesssystem, nutzt Kameras und LED-Sensoren für die beidseitigen optischen Prüfungen und kann mit einer Signaturanalyse die Tests erheblich beschleunigen. Die nochmals verbesserte Prüfgeschwindigkeit und die erhöhte Testabdeckung weiten die Einsatzmöglichkeiten des FP-Tests deutlich aus und steigern dessen Produktivität markant.

Hauptmerkmale:

  • 6 Köpfe mit 10 fliegenden Messsonden für den FP-Test von beiden Seiten
  • Ultraschnelle X/Y/Z-Motoren und -Steuerungen
  • 50% schneller als herkömmliche FP-Testsysteme
  • Hochgenaue Antastung auch für kleinste Kontaktflächen bis 60 µm
  • Soft-Touch-Control
  • Messelektronik direkt auf den Prüfköpfen integriert, für beste Signalintegrität
  • Neuentwickelte flexible Baugruppenaufnahme
  • CAD- und BOM-Import
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Color-Real-Map-Funktion zur grafischen Ansicht der Baugruppe und Kontaktpunkte
  • Optionen: Transportsystem mit automatischer Breitenverstellung und SMEMA-Schnittstelle, IC-Open-Sensoren, LED-Tests, optische Tests, Funktionstests, u .v. m.

APT-1400F

Das schnellste Flying-Probe-Testsystem weltweit!

TAKAYA APT-1400F – Das schnellste Flying-Probe-Testsystem weltweit!

Die TAKAYA APT-1400F ist das schnellste Flying-Probe-Testsystem weltweit und setzt im Wettbewerb neue Maßstäbe in den Bereichen Geschwindigkeit und Testabdeckung. Das System ist speziell für den Test von komplexen Baugruppen und großen Stückzahlen entwickelt worden. Die APT-1400F verfügt über 6 fliegende Messsonden, davon zwei vertikal angebracht, um Zugriffe auf Kontaktpunkte zu ermöglichen, die bisher nicht erreichbar waren.

Die APT-1400F kennt keine Kompromisse zwischen Geschwindigkeit, Zuverlässigkeit und einer langen Lebensdauer. Das Design des X/Y-Tisches wurde komplett überarbeitet und der hohen Verfahrgeschwindigkeit der Prüfnadeln, sowie der neuen mechanischen Konstruktion der Achsen, optimal angepasst. Eine hochgenaue Messeinheit und zahlreiche innovative Testalgorithmen, ermöglichen eine deutliche Steigerung der Testabdeckung auf Ihren Baugruppen.

Hauptmerkmale:

  • 4 Köpfe mit 6 fliegenden Messsonden für den FP-Test von oben
  • Ultraschnelle X/Y/Z-Motoren und -Steuerungen
  • 50% schneller als herkömmliche FP-Testsysteme
  • Hochgenaue Antastung auch für kleinste Kontaktflächen bis 60 µm
  • Soft-Touch-Control
  • Messelektronik direkt auf den Prüfköpfen integriert, für beste Signalintegrität
  • Neuentwickelte flexible Baugruppenaufnahme
  • CAD- und BOM-Import
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Color-Real-Map-Funktion zur grafischen Ansicht der Baugruppe und Kontaktpunkte
  • Optionen: Transportsystem mit automatischer Breitenverstellung und SMEMA-Schnittstelle, IC-Open-Sensoren, LED-Tests, optische Tests, Funktionstests, u .v. m.

BST (Boundary-Scan-Test)

Test und Programmierung über Boundary-Scan-Zellen haben in den letzten Jahren in allen Bereichen der Elektronikproduktion stark an Bedeutung gewonnen, da der direkte Zugriff auf bestimmte Schaltungspunkte, bedingt durch die zunehmende Miniaturisierung und erhöhte Packungsdichten, immer schwieriger wird.

Mit Boundary-Scan steht nun eine kostengünstige, bewährte und zuverlässige Test- und Programmiermethode zur Verfügung, die wir entweder als Einzelteststand oder in Verbindung mit unseren ICT-/FKT-Systemen und -Projekten, anbieten und integrieren können. Es eignet sich perfekt, um auch komplexe Baugruppen mit minimalen Zugriffsmöglichkeiten akkurat zu testen und zu programmieren.

Mit unserem US-amerikanischen Partner Flynn Systems, einem weltweit führenden BS-Experten seit 1996, bieten wir IEEE 1149.1/1149.x konforme Hardware und Software sowie schlüsselfertige Lösungen und Dienstleistungen rund um das Thema Boundary-Scan an.

onTAP Development

Boundary-Scan-Tests

FLYNN SYSTEMS onTAP Development – Die Entwicklungsplattform für stabile und umfassende Boundary-Scan-Tests

onTAP Development beinhaltet enthält alle notwendigen Softwaretools, die Sie für die Entwicklung und Durchführung umfassender und zuverlässiger JTAG-Tests benötigen und unterstützt Sie während des ganzen Lebenszyklus‘ einer Baugruppe.

Mit über zwei Dutzend CAD-Netzlistenlesern, einem integrierten Netzlisten-Merge-Tool sowie ProScan, der grafischen Debug-Umgebung, wird onTAP Development Ihre BS-Projektentwicklungszeit massiv beschleunigen und die Entwicklungskosten reduzieren.

Hauptmerkmale:

  • Integriertes Entwicklungs- und Runtime-System
  • Importfilter für ca. 30 CAD-Formate
  • BSDL-Dateisyntax- und Semantik-Checker
  • Projektassistent
  • Automatische Erkennung der vorhandenen BS-Ketten
  • Netzlistenzusammenführung
  • Automatische Testprogrammgenerierung
  • Interconnect-Tests
  • Speicher- und Cluster-Tests, inklusive umfassende Bibliothek von DTS-Modellen für gängige DDR4, DDR3, DDR2, SRAM, SDRAM, NAND, I2C und weitere Flash-Speicher
  • Benutzerdefinierte Selbsttests (BIST)
  • Paralleltest
  • Integrierte graphische Debugoberfläche ProScan
  • Präzise Diagnose auf Pin-Ebene
  • Verschiedene onTAP-USB-Controller und Lizenzmodelle wählbar

ISP, OBP (In-System- und On-Board-Programmierung)

In-System-Programmierung (ISP) wird heute in vielfältiger Weise angewendet und hat den Vorteil, dass Bausteine programmiert werden können, wenn Sie bereits bestückt und verlötet sind.

Hier sind schnelle Abläufe, Parallelprogrammierung, umfassende Bibliotheken und Erfahrungen mit der Einbindung in diverse Testszenarien gefragt. Wir bieten erprobte Lösungen von SMH Technologies an.

FlashRunner FR01AT0

Hostgesteuerte Programmierplattform

SMH Technologies FlashRunner FR01AT0 – Die universelle, hostgesteuerte Programmierplattform für ICT-/FKT-Systeme

Der FlashRunner FR01AT0 von SMH Technologies ist ein komplettes In-System-Programmiergerät, das speziell für die einfache Integration in die von uns unterstützten In-Circuit- und Funktionstestsysteme sowie deren Nadelbettadapter entwickelt wurde.

Hauptmerkmale:

  • Einfache Integration in alle ATE-Systeme
  • Steuerbar über optoisoliertes LAN, RS-232 oder parallele Steuerleitungen
  • Schnellste Programmieralgorithmen
  • Über 3.500 unterstützte Bausteine (Atmel, Freescale, Fujitsu, Infineon, Microchip, NEC, NXP, Renesas, STMicroelectronics, Texas Instruments und viele weitere)
  • Unterstützung aller Arten von ISP-Protokollen, wie JTAG, SPI, I2C, SCI, BDM, etc.
  • DLL zur Steuerung des Programmers aus einer benutzerdefinierten Anwendungen heraus
  • Befehlszeilen-Utilities
  • Galvanische Trennung mittels Relais‘ für alle I/O-ISP-Leitungen
  • Überwachung der Programmierspannung
  • Überstromüberwachung an programmierbaren Stromversorgungsleitungen
  • Kompakte Bauform: 130 mm x 74 mm x 42 mm

Gern realisieren wir für Sie auch einen Stand-alone-Programmierplatz mit auf Ihre Produkte abgestimmten Programmern und Adaptierungen.