ICT (In-Circuit-Test)
Der In-Circuit-Test hat sich in den vergangenen Jahren stark verändert, ist aber – gerade im Bereich hoher Volumina – immer noch eine der zuverlässigsten Testmethoden. Als Ergänzung zu den Resultaten eines AOI-Systems, liefert er im analogen Bereich exakte Bauteilwerte und prüft integrierte digitale oder hybride Schaltungen auf deren Funktion.
Voraussetzung für eine gute ICT-Testabdeckung ist, dass die Baugruppe für dieses Testverfahren auch ausgelegt ist, was in der Realität immer schwieriger wird. Die voranschreitende Miniaturisierung, hohe Packungsdichten sowie Kostendruck machen es nicht einfacher, die benötigten Testpunkte überhaupt vorzusehen.
Unsere ICT-Systeme von Dr. Eschke zeichnen sich durch ihre hohe Skalierbarkeit aus. So kann ein für ein bestimmtes Projekt beschafftes MDA-System (MDA = Manufacturing Defect Analyzer) bei Bedarf jederzeit zu einem leistungsfähigen In-Circuit-Tester mit Digitalfunktionalität oder zu einem Funktions- oder Kombinationstestsystem hochgerüstet werden.
Mit unseren erfahrenen Applikations-Spezialisten sind wir in diesem Bereich übrigens auch als Testhaus tätig und beraten Sie auch gern, wenn Sie Fragen zum DFT, resp. zur Testbarkeit einer Baugruppe oder zur Erstellung eines In-Circuit-Testprogramms haben (DFT = Design for Testability).
FKT (Funktionstest)
Funktionstests sind die Königsdisziplin der Teststrategien. Wir arbeiten mit standardisierten Lösungen der Anbieter Dr. Eschke und IPSES. Diese sind optimiert für Funktionstests in den Branchen Automotive, weiße und braune Ware, Medizintechnik, Luft- und Raumfahrt, Verteidigungsstechnik sowie Informations- und Kommunikationstechnik.
Dr. Eschke ist der Spezialist für die Kombination von In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstest (FKT) in skalierbarer Bauweise.
IPSES, ein international renommierter Anbieter aus Italien, verfügt über eine Vielzahl von Zertifizierungen und Zulassungen im Systemumfeld und baut komplexe Funktionstestsysteme exakt nach Kundenanforderung.
FPT (Flying-Probe-Test)
Wenn elektrische Tests für Prototypen sowie kleine und mittlere Serien gefragt sind, bietet sich ein Flying-Probe-Testsystem als die richtige Teststrategie an.
Da die Kontaktierung mit dem Prüfling über 4 bis 10 fliegende Messsonden erfolgt, entfallen die langen Wartezeiten und Kosten für die Erstellung eines Nadelbettadapters. FP-Testsysteme haben zudem den Vorteil, dass auch Baugruppen geprüft werden können, die nicht streng nach den DFT-Regeln (DFT = Design for Testability) entwickelt worden sind oder die Platzverhältnisse das Setzen von Testpunkten nicht zugelassen hat.
Um die Testabdeckung weiter zu steigern, kann der Standard-FPT mit einer Vielzahl von zusätzlichen Testverfahren ergänzt werden, wie z.B.: IC-Open-Tests, optische Prüfungen, Farb- und Intensitätstests von LED, Funktionstests, u. v. m.
Als Teil des Partnernetzwerks von SYSTECH Europe bieten wir die weltweit schnellsten und innovativsten Flying-Probe-Testsysteme des japanischen Herstellers TAKAYA an.
Bereits 1987 stellte TAKAYA das weltweit erste FP-Testsystem vor, eine Innovation, die nachhaltig die Prüfstrategien in fast allen Bereichen der Elektronikindustrie verändert hat. Und auch heute noch versteht es TAKAYA wie kein anderer, präzise Mechanik und hochgenaue Messeinrichtungen in einem System zu kombinieren.
Falls Sie noch kein eigenes Flying-Probe-Testsystem einsetzen, bieten wir übrigens auch einen preislich attraktiven FP-Testservice mit kurzen Umschlagzeiten an.
BST (Boundary-Scan-Test)
Test und Programmierung über Boundary-Scan-Zellen haben in den letzten Jahren in allen Bereichen der Elektronikproduktion stark an Bedeutung gewonnen, da der direkte Zugriff auf bestimmte Schaltungspunkte, bedingt durch die zunehmende Miniaturisierung und erhöhte Packungsdichten, immer schwieriger wird.
Mit Boundary-Scan steht nun eine kostengünstige, bewährte und zuverlässige Test- und Programmiermethode zur Verfügung, die wir entweder als Einzelteststand oder in Verbindung mit unseren ICT-/FKT-Systemen und -Projekten, anbieten und integrieren können. Es eignet sich perfekt, um auch komplexe Baugruppen mit minimalen Zugriffsmöglichkeiten akkurat zu testen und zu programmieren.
Mit unserem US-amerikanischen Partner Flynn Systems, einem weltweit führenden BS-Experten seit 1996, bieten wir IEEE 1149.1/1149.x konforme Hardware und Software sowie schlüsselfertige Lösungen und Dienstleistungen rund um das Thema Boundary-Scan an.
ISP, OBP (In-System- und On-Board-Programmierung)
In-System-Programmierung (ISP) wird heute in vielfältiger Weise angewendet und hat den Vorteil, dass Bausteine programmiert werden können, wenn Sie bereits bestückt und verlötet sind.
Hier sind schnelle Abläufe, Parallelprogrammierung, umfassende Bibliotheken und Erfahrungen mit der Einbindung in diverse Testszenarien gefragt. Wir bieten erprobte Lösungen von SMH Technologies an.
