Test


ICT (In-Circuit-Test)

Der In-Circuit-Test hat sich in den vergangenen Jahren stark verändert, ist aber – gerade im Bereich hoher Volumina – immer noch eine der zuverlässigsten Testmethoden. Als Ergänzung zu den Resultaten eines AOI-Systems, liefert er im analogen Bereich exakte Bauteilwerte und prüft integrierte digitale oder hybride Schaltungen auf deren Funktion.

Voraussetzung für eine gute ICT-Testabdeckung ist, dass die Baugruppe für dieses Testverfahren auch ausgelegt ist, was in der Realität immer schwieriger wird. Die voranschreitende Miniaturisierung, hohe Packungsdichten sowie Kostendruck machen es nicht einfacher, die benötigten Testpunkte überhaupt vorzusehen.
Unsere ICT-Systeme von Dr. Eschke zeichnen sich durch ihre hohe Skalierbarkeit aus. So kann ein für ein bestimmtes Projekt beschafftes MDA-System (MDA = Manufacturing Defect Analyzer) bei Bedarf jederzeit zu einem leistungsfähigen In-Circuit-Tester mit Digitalfunktionalität oder zu einem Funktions- oder Kombinationstestsystem hochgerüstet werden.

Mit unseren erfahrenen Applikations-Spezialisten sind wir in diesem Bereich übrigens auch als Testhaus tätig und beraten Sie auch gern, wenn Sie Fragen zum DFT, resp. zur Testbarkeit einer Baugruppe oder zur Erstellung eines In-Circuit-Testprogramms haben (DFT = Design for Testability).

CT300 Satellite

Kompaktes MDA-Testsystem

Dr. Eschke CT300 Satellite – Kompaktes MDA-Testsystem mit Flachbandkabelschnittstelle

Das Kompaktsystem CT300 Satellite eignet sich ideal für die Überprüfung der Fertigungsqualität von kleineren Baugruppen.

Hauptmerkmale:

  • 19“-Rack mit 7 Steckplätzen, Standard-Flachbandkabelschnittstelle, bis zu 720 ICT-Testpunkte
  • Wechseladapterkonzepte
  • Kleine Standfläche
  • Ideal für kleine bis mittlere Fertigungsvolumen
  • CAD-Datenimport
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Testabdeckungsanalyse
  • Papierlose Reparaturstation
  • Zahlreiche Logging- und Statistikfunktionen
  • Nutzentest
  • Paralleltest

Broschüre Dr. Eschke CT300, CT350

CT300 Meteor

Modulares Kombinationstestsystem mit Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle

Dr. Eschke CT300 Meteor – Modularer Kombinationstester mit Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle

Die CT300 Meteor lässt sich flexibel in jede beliebige Testumgebung integrieren und kann als MDA-, ICT-, FKT- oder Kombinationstester konfiguriert werden. Das großzügig bemessene Rack lässt den Einbau zahlreicher Optionen zu, um den Prüfumfang genau auf Ihre Produkte abzustimmen.

Hauptmerkmale:

  • 19“-Rack mit 21 Steckplätzen, Standard-Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle, bis zu 2.736 ICT-Testpunkte
  • Wechseladapterkonzepte
  • Ideal für mittlere bis hohe Fertigungsvolumen bei hohen Produktwechselzyklen
  • Kürzeste Testzeiten, sehr hoher Durchsatz
  • Steuerung von Inline- und Handlingsystemen
  • Grosse Auswahl an verschiedenen Analog-, Digital-, Scanner-, I/O- und Funktionstestmodulen
  • CAD-Datenimport
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Testabdeckungsanalyse
  • Papierlose Reparaturstation
  • Zahlreiche Logging- und Statistikfunktionen
  • Nutzen- und Multi-Site-Test
  • Optionen: Boundary-Scan-Test, OCR, LED-Test, In-System-Programmierung (ISP), kompatible Vakuumschnittstelle zu GenRad GR2280/81, Inline-Version, u. v. m.

Broschüre Dr. Eschke CT300, CT350

CT350 Comet-T

Modulares Kombinationstestsystem mit High-Pin-Count-Schnittstelle

Dr. Eschke CT350 Comet-T – Modularer Kombinationstester mit High-Pin-Count-Schnittstelle

Die Tischversion der CT-350-Serie lässt sich skalierbar als MDA-, ICT-, FKT- oder leistungsfähiger Kombinationstester konfigurieren und ist präzise auf jede Kundenanforderung abstimmbar. Die High-Pin-Count-Pylon-Schnittstelle begünstigt den schnellen Adapterwechsel und sorgt für eine zuverlässige Kontaktierung.

Hauptmerkmale:

  • 21 Steckplätze, High-Pin-Count-Schnittstelle, bis zu 2.736 ICT-Testpunkte
  • Ideal für mittlere bis hohe Fertigungsvolumen bei hohen Produktwechselzyklen
  • Kürzeste Testzeiten, sehr hoher Durchsatz
  • Grosse Auswahl an verschiedenen Analog-, Digital-, Scanner-, I/O- und Funktionstestmodulen
  • Sehr gutes Preis-/Leistungsverhältnis
  • CAD-Datenimport
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Testabdeckungsanalyse
  • Papierlose Reparaturstation
  • Zahlreiche Logging- und Statistikfunktionen
  • Nutzen- und Multi-Site-Test

Optionen: Boundary-Scan-Test, OCR, LED-Test, In-System-Programmierung (ISP), zusätzliches Power-Rack, u. v. m.

Broschüre Dr. Eschke CT300, CT350

TestStation, TS12X, TS8X, GR228X

Gebrauchte Testsysteme

Teradyne (GenRad)

Teradyne (GenRad) TestStation, TS12X, TS8X, GR228X – Generalüberholte, gebrauchte In-Circuit-Testsysteme zu attraktiven Preisen

Unsere Gebrauchtsysteme werden mit viel Herzblut und Erfahrung sorgfältig aufbereitet und punktgenau auf die individuelle Kundenanforderung konfiguriert. Folgende Leistungen sind inbegriffen:

  • Komplette Innen- und Außenreinigung
  • Ersatz von Verschleißteilen, wie Luftfilter und Dichtungen. Bei Bedarf werden auch die Federkontaktstifte der Testerschnittstelle und die Lüfter ersetzt.
  • Neulackierung oder Pulverbeschichtung
  • Konfiguration der Testerhardware und Systemsoftware nach Kundenspezifikation
  • Leistungsfähiger Industrie-Steuerrechner mit neuen Peripheriegeräten (Bildschirm, Tastatur, Maus)
  • AVP / Kalibrierung, inkl. Zertifikat
  • Burn-In-Test aller Systemkomponenten

Hauptmerkmale:

  • Leistungsfähiges ICA-Analogmodul für die Überprüfung von Widerständen, Kondensatoren, Induktivitäten, Dioden, Transistoren, FET, Operationsverstärkern, u.s.w.
  • DC-Voltmeter: 0 bis ±200 V
  • DC-Amperemeter: 0 bis ±160 mA
  • 2 programmierbare Präzisions-Spannungs- und Stromquellen: 0 bis ±18 V, 0 bis ±500 mA, 16-Bit
  • 8-Kanal-Analogbus
  • Integrierter arbiträrer Waveform-Generator AWG
  • Leistungsstarke digitale Vektortests mit programmierbaren Treibern und Sensoren (D/S),  Timing-Sets und Clockraten bis 20 MHz
  • 256 bis 7.680 hybride Testpunkte
  • Relais- und TTL-Treiber und -Sensoren
  • 9 BNC-Ports für den Anschluss von externen Quellen und Messgeräten
  • Automatische Vakuumsteuerung für Einzel-und Doppelkammertestadaptoren

Optionen:

  • Hochspannungsquelle HVS: ±120 V
  • Analoges Funktionstestmodul AFTM mit DMM, AC/DC-Quelle und Frequenzzähler
  • DSM-Modul für In-System- und Flashprogrammierung
  • Bis zu 7 programmierbare Stromversorgungen: 0 bis 7 V (15 A), 0 bis 20 V (8 A), 0 bis 60 V (2,5 A)
  • 3-fach-Festspannungsversorgung: +5 V (6 A), ±15 V (1 A)
  • Weitere Optionen auf Anfrage.

GR TestStation TS84

Gebrauchtes Testsystem

GenRad TestStation TS84

Steuerrechner und Software

  • 1 x ATEcare Industrie-PC, inkl. Intel Core 2 Duo CPU, 2.8 GHz, 500 GB SATA HDD, 4 GB DDR3 RAM, DVD/RW, Tastatur, Maus
  • 1 x 9021-0318-00 PCI-MXI-2
  • 1 x 9021-0382-00 MXI-1.5-Kabel
  • 1 x 9022-0469-00 PCI-IEEE/GPIB
  • 1 x 9021-0404-00 PCI-RocketPort-RS232
  • 1 x 9021-0403-00 RocketPort RS-232-Verteilerbox, 8 Anschlüsse
  • 1 x Microsoft Windows XP Professional, EN, 32-Bit, OEM
  • 1 x 094-077-00 Teradyne System Software Rel. 5.8.0.0.46
  • 1 x 094-078-00 Teradyne Online Manuals Rel. 5.8.0
    – Die Software verbleibt auf dem Computer wie vom Vorbesitzer lizenziert. Die Lizenzierung der Software liegt in der Verantwortung des Endkunden.

Analoge und digitale Testerhardware

  • 1 x 9004-0399-00 MTG
  • 1 x 2277-4711-00 HSC, High-Speed-Controller-Board
  • 1 x 2277-4712-03 CST, Clock-/Sync-/Trigger-Board
  • 1 x 9004-0406-00 D/S-Reference- und PIO-Board
  • 9 x 9004-0225-00 Combo2a Pin-Board
    – 128 gemultiplexte Hybrid-Pins, 32 echte D/S pro Pin-Board, MUX-Verhältnis: 2:8
    – Aktueller Pin-Ausbau: 1.152 Testpunkte
    – Erweiterbar auf: 1.920 oder 2.560 Testpunkte (optional)
  • 1 x 9004-0040-01 AFTM, anaolges Funktionstestmodul
  • 1 x 2277-4019-00 DSM1, Deep-Serial-Memory-Board, 8 MB
  • 1 x 9004-0340-00 ICA, In-Circuit-Analog-Board
    – Inkl. ±120 V Hochspannungsoption

UUT-Netzteile

  • 1 x 9010-0398-00 Gehäuse für progr. UUT-Netzteile, 240 V
  • 1 x 9004-0029-02 Steuermodul
  • 3 x 9004-0025-02 Progr. UUT-Stromversorgung, 0 – 20 V, 0 – 8 A
  • 2 x 9004-0026-02 Progr. UUT-Stromversorgung, 0 – 60 V, 0 – 2.5 A
  • 1 x 9004-0020-02 Progr. UUT-Stromversorgung, 0 – 7 V, 0 – 15 A
  • 1 x 9001-0368-00 3-Fach-Festspannungsversorgung, +5 V, 6 A; ±15 V, 1 A

Diverses

  • 1 x 9001-0655-00 STF, Selbsttestadapter, Slots 0 – 30
  • 1 x 9021-0028-00 Keypad
  • 1 x 9021-0241-00 Diagnosedrucker

Optionen

  • Erhöhung der Testpunktanzahl auf 1.920 oder 2.560 durch zusätzliche Combo 2a Pin-Boards
  • Zusätzliches Alliance-Gehäuse für die Aufnahme von bis zu 7 weiteren programmierbaren Stromversorgungen, frei konfigurierbar mit den Netzteiltypen: 0-7 V / 15 A, 0-20 V / 8 A, 0-60 V / 2,5 A.
  • Installation und Erstinbetriebnahme vor Ort
  • Service- und Wartungsschulung
  • Programmier-Schulung

Unsere Gebrauchtsysteme werden sorgfältig aufbereitet und punktgenau auf die individuelle Kundenanforderung konfiguriert. Folgende Leistungen sind inbegriffen:

  • Komplette Innen- und Außenreinigung
  • Ersatz von Verschleißteilen, wie Luftfilter und Dichtungen. Bei Bedarf werden auch die Federkontaktstifte der Testerschnittstelle und die Lüfter ersetzt.
  • Konfiguration der Testerhardware und Systemsoftware nach Kundenspezifikation
  • AVP / Kalibrierung, inkl. Zertifikat
  • Burn-In-Test aller Systemkomponenten
ICT (In-Circuit-Test)