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Test
FPT (Flying-Probe-Test)
Wenn elektrische Tests für Prototypen sowie kleine und mittlere Serien gefragt sind, bietet sich ein Flying-Probe-Testsystem als die richtige Teststrategie an.
Da die Kontaktierung mit dem Prüfling über 4 bis 10 fliegende Messsonden erfolgt, entfallen die langen Wartezeiten und Kosten für die Erstellung eines Nadelbettadapters. FP-Testsysteme haben zudem den Vorteil, dass auch Baugruppen geprüft werden können, die nicht streng nach den DFT-Regeln (DFT = Design for Testability) entwickelt worden sind oder die Platzverhältnisse das Setzen von Testpunkten nicht zugelassen hat.
Um die Testabdeckung weiter zu steigern, kann der Standard-FPT mit einer Vielzahl von zusätzlichen Testverfahren ergänzt werden, wie z.B.: IC-Open-Tests, optische Prüfungen, Farb- und Intensitätstests von LED, Funktionstests, u. v. m.
Als Teil des Partnernetzwerks von SYSTECH Europe bieten wir die weltweit schnellsten und innovativsten Flying-Probe-Testsysteme des japanischen Herstellers TAKAYA an.
Bereits 1987 stellte TAKAYA das weltweit erste FP-Testsystem vor, eine Innovation, die nachhaltig die Prüfstrategien in fast allen Bereichen der Elektronikindustrie verändert hat. Und auch heute noch versteht es TAKAYA wie kein anderer, präzise Mechanik und hochgenaue Messeinrichtungen in einem System zu kombinieren.
Falls Sie noch kein eigenes Flying-Probe-Testsystem einsetzen, bieten wir übrigens auch einen preislich attraktiven FP-Testservice mit kurzen Umschlagzeiten an.
APT-1600FD
Beidseitiger Test mit 10 fliegenden Messsonden

TAKAYA APT-1600FD – 10 fliegende Messsonden für unschlagbare Testabdeckung von beiden Seiten
Die TAKAYA APT-1600FD ist das neuste Flying-Probe-Testsystem aus dem Hause TAKAYA. Es prüft mit zehn fliegenden Nadeln die Baugruppen gleichzeitig von der Ober- und Unterseite, verfügt über ein Laser-Höhenmesssystem, nutzt Kameras und LED-Sensoren für die beidseitigen optischen Prüfungen und kann mit einer Signaturanalyse die Tests erheblich beschleunigen. Die nochmals verbesserte Prüfgeschwindigkeit und die erhöhte Testabdeckung weiten die Einsatzmöglichkeiten des FP-Tests deutlich aus und steigern dessen Produktivität markant.
Hauptmerkmale:
- 6 Köpfe mit 10 fliegenden Messsonden für den FP-Test von beiden Seiten
- Ultraschnelle X/Y/Z-Motoren und -Steuerungen
- 50% schneller als herkömmliche FP-Testsysteme
- Hochgenaue Antastung auch für kleinste Kontaktflächen bis 60 µm
- Soft-Touch-Control
- Messelektronik direkt auf den Prüfköpfen integriert, für beste Signalintegrität
- Neuentwickelte flexible Baugruppenaufnahme
- CAD- und BOM-Import
- Automatischer Testprogrammgenerator
- Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
- Color-Real-Map-Funktion zur grafischen Ansicht der Baugruppe und Kontaktpunkte
- Optionen: Transportsystem mit automatischer Breitenverstellung und SMEMA-Schnittstelle, IC-Open-Sensoren, LED-Tests, optische Tests, Funktionstests, u .v. m.
APT-1400F
Das schnellste Flying-Probe-Testsystem weltweit!

TAKAYA APT-1400F – Das schnellste Flying-Probe-Testsystem weltweit!
Die TAKAYA APT-1400F ist das schnellste Flying-Probe-Testsystem weltweit und setzt im Wettbewerb neue Maßstäbe in den Bereichen Geschwindigkeit und Testabdeckung. Das System ist speziell für den Test von komplexen Baugruppen und großen Stückzahlen entwickelt worden. Die APT-1400F verfügt über 6 fliegende Messsonden, davon zwei vertikal angebracht, um Zugriffe auf Kontaktpunkte zu ermöglichen, die bisher nicht erreichbar waren.
Die APT-1400F kennt keine Kompromisse zwischen Geschwindigkeit, Zuverlässigkeit und einer langen Lebensdauer. Das Design des X/Y-Tisches wurde komplett überarbeitet und der hohen Verfahrgeschwindigkeit der Prüfnadeln, sowie der neuen mechanischen Konstruktion der Achsen, optimal angepasst. Eine hochgenaue Messeinheit und zahlreiche innovative Testalgorithmen, ermöglichen eine deutliche Steigerung der Testabdeckung auf Ihren Baugruppen.
Hauptmerkmale:
- 4 Köpfe mit 6 fliegenden Messsonden für den FP-Test von oben
- Ultraschnelle X/Y/Z-Motoren und -Steuerungen
- 50% schneller als herkömmliche FP-Testsysteme
- Hochgenaue Antastung auch für kleinste Kontaktflächen bis 60 µm
- Soft-Touch-Control
- Messelektronik direkt auf den Prüfköpfen integriert, für beste Signalintegrität
- Neuentwickelte flexible Baugruppenaufnahme
- CAD- und BOM-Import
- Automatischer Testprogrammgenerator
- Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
- Color-Real-Map-Funktion zur grafischen Ansicht der Baugruppe und Kontaktpunkte
- Optionen: Transportsystem mit automatischer Breitenverstellung und SMEMA-Schnittstelle, IC-Open-Sensoren, LED-Tests, optische Tests, Funktionstests, u .v. m.