Test

FPT (Flying-Probe-Test)

Wenn elektrische Tests für Prototypen sowie kleine und mittlere Serien gefragt sind, bietet sich ein Flying-Probe-Testsystem als die richtige Teststrategie an.

Da die Kontaktierung mit dem Prüfling über 4 bis 10 fliegende Messsonden erfolgt, entfallen die langen Wartezeiten und Kosten für die Erstellung eines Nadelbettadapters. FP-Testsysteme haben zudem den Vorteil, dass auch Baugruppen geprüft werden können, die nicht streng nach den DFT-Regeln (DFT = Design for Testability) entwickelt worden sind oder die Platzverhältnisse das Setzen von Testpunkten nicht zugelassen hat.

Um die Testabdeckung weiter zu steigern, kann der Standard-FPT mit einer Vielzahl von zusätzlichen Testverfahren ergänzt werden, wie z.B.: IC-Open-Tests, optische Prüfungen, Farb- und Intensitätstests von LED, Funktionstests, u. v. m.

Als Teil des Partnernetzwerks von SYSTECH Europe bieten wir die weltweit schnellsten und innovativsten Flying-Probe-Testsysteme des japanischen Herstellers TAKAYA an.

Bereits 1987 stellte TAKAYA das weltweit erste FP-Testsystem vor, eine Innovation, die nachhaltig die Prüfstrategien in fast allen Bereichen der Elektronikindustrie verändert hat. Und auch heute noch versteht es TAKAYA wie kein anderer, präzise Mechanik und hochgenaue Messeinrichtungen in einem System zu kombinieren.

Falls Sie noch kein eigenes Flying-Probe-Testsystem einsetzen, bieten wir übrigens auch einen preislich attraktiven FP-Testservice mit kurzen Umschlagzeiten an.

APT-1600FD

Beidseitiger Test mit 10 fliegenden Messsonden

TAKAYA APT-1600FD – 10 fliegende Messsonden für unschlagbare Testabdeckung von beiden Seiten

Die TAKAYA APT-1600FD ist das neuste Flying-Probe-Testsystem aus dem Hause TAKAYA. Es prüft mit zehn fliegenden Nadeln die Baugruppen gleichzeitig von der Ober- und Unterseite, verfügt über ein Laser-Höhenmesssystem, nutzt Kameras und LED-Sensoren für die beidseitigen optischen Prüfungen und kann mit einer Signaturanalyse die Tests erheblich beschleunigen. Die nochmals verbesserte Prüfgeschwindigkeit und die erhöhte Testabdeckung weiten die Einsatzmöglichkeiten des FP-Tests deutlich aus und steigern dessen Produktivität markant.

Hauptmerkmale:

6 Köpfe mit 10 fliegenden Messsonden für den FP-Test von beiden Seiten
Ultraschnelle X/Y/Z-Motoren und -Steuerungen
50% schneller als herkömmliche FP-Testsysteme
Hochgenaue Antastung auch für kleinste Kontaktflächen bis 60 µm
Soft-Touch-Control
Messelektronik direkt auf den Prüfköpfen integriert, für beste Signalintegrität
Neuentwickelte flexible Baugruppenaufnahme
CAD- und BOM-Import
Automatischer Testprogrammgenerator
Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
Color-Real-Map-Funktion zur grafischen Ansicht der Baugruppe und Kontaktpunkte
Optionen: Transportsystem mit automatischer Breitenverstellung und SMEMA-Schnittstelle, IC-Open-Sensoren, LED-Tests, optische Tests, Funktionstests, u .v. m.

APT-1400F

Das schnellste Flying-Probe-Testsystem weltweit!

TAKAYA APT-1400F – Das schnellste Flying-Probe-Testsystem weltweit!

Die TAKAYA APT-1400F ist das schnellste Flying-Probe-Testsystem weltweit und setzt im Wettbewerb neue Maßstäbe in den Bereichen Geschwindigkeit und Testabdeckung. Das System ist speziell für den Test von komplexen Baugruppen und großen Stückzahlen entwickelt worden. Die APT-1400F verfügt über 6 fliegende Messsonden, davon zwei vertikal angebracht, um Zugriffe auf Kontaktpunkte zu ermöglichen, die bisher nicht erreichbar waren.

Die APT-1400F kennt keine Kompromisse zwischen Geschwindigkeit, Zuverlässigkeit und einer langen Lebensdauer. Das Design des X/Y-Tisches wurde komplett überarbeitet und der hohen Verfahrgeschwindigkeit der Prüfnadeln, sowie der neuen mechanischen Konstruktion der Achsen, optimal angepasst. Eine hochgenaue Messeinheit und zahlreiche innovative Testalgorithmen, ermöglichen eine deutliche Steigerung der Testabdeckung auf Ihren Baugruppen.

Hauptmerkmale:

4 Köpfe mit 6 fliegenden Messsonden für den FP-Test von oben
Ultraschnelle X/Y/Z-Motoren und -Steuerungen
50% schneller als herkömmliche FP-Testsysteme
Hochgenaue Antastung auch für kleinste Kontaktflächen bis 60 µm
Soft-Touch-Control
Messelektronik direkt auf den Prüfköpfen integriert, für beste Signalintegrität
Neuentwickelte flexible Baugruppenaufnahme
CAD- und BOM-Import
Automatischer Testprogrammgenerator
Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
Color-Real-Map-Funktion zur grafischen Ansicht der Baugruppe und Kontaktpunkte
Optionen: Transportsystem mit automatischer Breitenverstellung und SMEMA-Schnittstelle, IC-Open-Sensoren, LED-Tests, optische Tests, Funktionstests, u .v. m.

GRS 550

Automatisierte Fehlerdiagnose auf komplexen Baugruppen

GRS 550 von Polar Instruments – Die Testlösung für Prototypen, Kleinserien, Reparaturen.

Prototypen Kleinserienfertigung, Produktneuanläufe stellen eine Herausforderung in der Elektronikfertigung dar. In der Kleinserienfertigung und im Prototypenbau sind traditionelle Teststrategien oft unwirtschaftlich. Dies bedeutet für Ihre Mitarbeiter oft langwierige, mühevolle manuelle Fehlersuche. Dies ist ein arbeitsaufwendiger und kostspieliger Vorgang, speziell auf hochintegrierten und komplexen Elektronikbaugruppen. Das GRS ist als Reparatur-Testsystem ausgelegt und unterstützt Sie bei Reparaturen von teuren Baugruppen, welche schwierig zu findende Fehler aufweisen und so vor der Verschrottung bewahrt werden können. Das System wurde speziell für folgende Anwendungen entwickelt: Prototypenbau, Produktneuanläufe und Kleinserien, welche zu klein für den Einsatz konventioneller ATEs sind.

Rasche Fehleranalyse auf bestückten Baugruppen

Das GRS wurde entwickelt, um eine rasche Fehlerlokalisierung zu ermöglichen und so Ihre wertvolle Zeit effizient zu nutzen, um eine defekte Baugruppe wieder zur Funktion zu bringen. Sie sparen Zeit, Kosten und maximieren Ihren Produktionsertrag.

Prototypen, Kleinserien und Produktneueinführungen bedeuten eine Herausforderung in der Elektronikfertigung.
Das neue Polar GRS550 dient zur Fehlerdiagnose in folgenden Bereichen: Prototypenbau, Produktneuanläufe, Kleinserien, für die ein traditioneller In-Circuit-Test zu teuer ist. Das System bietet umfangreiche Testmöglichkeiten bei gleichzeitig kurzen Vorbereitungszeiten und geringen Kosten. Der Schlüssel dazu ist die extensive Nutzung von CAD-Daten in Kombination mit bewährter Fehlerdiagnose-Technologie. Beim Serienanlauf dient das System zur unverzichtbaren Unterstützung nach dem Funktionstest und ermöglicht maximale Produktionserträge.

Fehlerdiagnose auf Baugruppen mit dem GRS550

Das System eignet sich besonders für die Fehlerdiagnose auf Baugruppen, bei welchen ein adapterbasierender Test keine wirtschaftliche Lösung darstellt. Das GRS550 vergleicht die Charakteristik einer Musterbaugruppe mit den fehlerhaften Boards mittels Knotenimpedanzanalyse und einer Videobilddarstellung, welche den direkten Vergleich von hochauflösenden Bildern der Gutbaugruppe und des Prüflings ermöglicht. Eine leistungsfähige CAD-basierende Reparatursoftware erlaubt die rasche Fehlerverfolgung am fehlerbehafteten Netz.

Ein vielseitiges Kontaktier- und Inspiziersystem

Das GRS550-System kann auf sämtlichen Bauteiltechnologien eingesetzt werden und bietet folgende Funktionen:

Eine Flughöhe von 100mm zum „Überfliegen“ von hohen Komponenten.
Zwei Live-Video Kameras
Eine Kamera für die Programmierung und Inspektion
Eine Kamera für die Live-Überwachung der Kontaktierposition

Das GRS550 ermöglicht die Fehlerdiagnose auf allen Bauteiltechnologien – von SMT, PTH bis hin zu BGA, wobei das System die Testpunkte automatisch auf die zugänglichen Stellen der Netze positioniert.

Knotenimpedanzanalyse

Das GRS550 Flying Probe System erkennt Fehlbestückungen, Kurzschlüsse, Unterbrechungen, fehlerhafte Lötstellen etc. durch eine detaillierte Analyse der dynamischen Knotenimpedanz jedes Netzes. Die Impedanz-Kennlinien des Prüflings werden mit jenen des Gutmusters verglichen und bei Toleranzüberschreitung als Fehlerhaft markiert. Dieses Prüfverfahren erfordert keine Bauteilbibliotheken und kann auf sämtlichen Bauteiltechnologien angewandt werden.

Broschüre Polar Instruments GRS550