SEC X-eye 5000er-Serie – Einstiegsbereich mit 2D- und 2.5D-Lösungen

HAUPTMERKMALE

• Anwendungsbereiche: PCB, SMD, PKG, LED, QFN, QFP, Chip, ECU, Sensoren, Kameramodule, …
• 2D-Inspektion, keine CT-Option
• Manuelle Be- und Entladung
• Geschlossene Röhre 100 kV (optional 130 kV) aus SEC-eigener Entwicklung und Fertigung
• 1.3 MP Detektor (optional 2.3 MP)
• Bewegbare X-, Y- und Z-Achsen, Tilt-Option
• SEC Software, AXI-S/W-Option
• FDA- und CE-Zertifizierung

Datenblatt SEC X-eye 5000er-Serie

SEC X-eye 6000er-Serie – Automatisierte Inline-Highspeed-2D/3D-Röntgeninspektion (optional mit CT)

HAUPTMERKMALE

• Anwendungsbereiche: PCB, SMD, BGA, PKG, LED, Chip, ECU, Sensoren, Kameramodule, Wire-Bond …
• Inline-Systeme für die 2D-, 2.5D- und 3D-Inspektion (OBCT-Option)
• Highspeed-Inspektion: 0.2 – 0.3 s/FOV
• Geschlossene oder offene hybride Röhren 100 kV – 160 kV aus SEC-eige­ner Entwick­lung und Fertigung
• Detektoren mit 1.6 MP – 9.6 MP
• Software: WAXI™ (Wire-Bonding-Inspektion), KI, VGSTUDIO™ optional
• FDA- und CE-Zertifizierung

Datenblatt SEC X-eye 6100

Datenblatt SEC X-eye 6200

Datenblatt SEC X-eye 6300

SEC X-eye SF160er-Serie – Analyse und Inspektion mit 2D-, 2.5D- und optionalen 3D/CT-Funktionen

Die SF160er-Serie von SEC beinhaltet drei Systemtypen:

SF160F, SF160N

• Optimiert für präzise Analyse mit 3D-Ansicht
• Zerstörungsfreie Inspektion und präzise Analyse von Halbleitern und elektronischen Bauteilen

SF160ER, SF160ERL

• Optimiert für präzise Analysen mit 2.5D-Ansicht
• Komfortable Durchführung von PCB- und LED-Prüfungen mit einer Tischgröße von bis zu 900 mm x 900 mm

SF160RT

• Zerstörungsfreies Inspizieren und präzise Analyse von SMT-, Elektronik- und insbesondere Halbleitergehäusen
• Anwendung verschiedener Verschiebungsmethoden von X- und Y-Neigung ermöglichen eine bessere 2.5D-Ansicht
• Optimiert für die Inspektion von mehrlagigen Leiterplatten
• Schräg- (OBCT) oder Kegelstrahl-CT (CBCT) zusätzlich verfügbar

HAUPTMERKMALE

• Einfache Bedienung und vielseitig einsetzbar
• Manuelle Be- und Entladung
• Offene Mikro-Fokus-Röhre 160 kV aus SEC-eige­ner Ent­wicklung und Fertigung
• FP-Detektor
• Bis zu 50000-fache digitale Vergrößerung
• Bewegbare Achsen
• FDA- und CE-Zertifizierung

Datenblatt SEC X-eye SF160F, SF160N

Datenblatt SEC X-eye SF160ER, SF160ERL

Datenblatt SEC X-eye SF160RT

SEC X-eye EVB-CT – Inline-Röntgen-CT-System für die Inspektion von EV-Batterien

HAUPTMERKMALE:

• 2D-, 2.5D- und 3D-Inline-Inspektion mit CT-Option
• Highspeed-Durchsatz
• Offene Röhre 240 kV aus SEC-eige­ner Entwick­lung und Fertigung
• Verschiedene Batteriezelltypen handhabbar
• Vollautomatische Inspektion in unterschiedlichen Produktionszyklen
• Aanpassbare Prüfalgorithmen (z.B. Kathode/ Anode, Abstände, Positionierung, Einschlüsse, etc.)

Datenblatt SEC X-exe EVB-CT

SEC X-eye NF120-Serie – Hochauflösende 3D-CT-Nanofokus-Inspektion für Halbleiter und Wafer

Die Nano-Fokus-Röhre mit einer Auflösung von 200 nm ist speziell für die Halbleiterfertigung und das Wafer-Level-Packaging (WLP) geeignet, bei denen Bereiche im Submikrometerbereich inspiziert werden müssen.

Datenblatt SEC X-eye NF120M

SEC SNE-4500MPlus –  Hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM, engl.: SEM) eignet sich hervorragend für die Analyse sehr kleiner Oberflächenstrukturen mit einer Auflösung im Nanometerbereich.
Die Bandbreite der Anwendungsbereiche ist riesig und reicht von F&E/Qualitätssicherung in der Halbleiterindustrie über Materialinspektionen von Kunststoffen, Metallen, Keramik usw. bis hin zu lebensmitteltechnischen und medizinischen Anwendungen und Untersuchungen.

Hauptmerkmale:

• Tischgerät für anspruchsvollste Inspektionsaufgaben
• Auflösung: 5 nm
• Bis zu 150000-fache Vergrößerung
• Beschleunigungsspannungen von 1 kV bis 30 kV
• Detektor: SE (Sekundärelektronenkontrast) und BSE (Rückstreuelektronenkontrast), je nach System
• Zusätzliche CCD-Kamera für einfaches Auffinden des genauen Analyseortes
• Vollmotorisierter Tisch mit 5 verstellbaren Achsen (X: 40 mm, Y: 40 mm, Z: 0 – 40 mm, R: 360º, T: -45º – 90º)
• SEC Software mit Messwerkzeugen für Größe, Winkel und Ausdehnung der Probe
• Dual-View-Modus zur simultanen Anzeige und Speicherung von SE- und BSE-Bildern
• Einfache Bedienung mit Autofokus, Helligkeit und Kontrast.
• Optionen: EDS-Detektor (Energiedispersive Röntgenspektroskopie), EDS-Software und Reporterstellung, Hochvakuumbeschichtungssystem, LVSEM (Niedervakuum-Modus)

Weitere Informationen zu diesem System liefern wir Ihnen gern auf Anfrage.
Bitte beachten Sie, dass wir Oberflächenanalysen auch als Dienstleistung anbieten.