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Test
FKT (Funktionstest)
Funktionstests sind die Königsdisziplin der Teststrategien. Wir arbeiten mit standardisierten Lösungen der Anbieter Dr. Eschke und IPSES. Diese sind optimiert für Funktionstests in den Branchen Automotive, weiße und braune Ware, Medizintechnik, Luft- und Raumfahrt, Verteidigungsstechnik sowie Informations- und Kommunikationstechnik.
Dr. Eschke ist der Spezialist für die Kombination von In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstest (FKT) in skalierbarer Bauweise.
IPSES, ein international renommierter Anbieter aus Italien, verfügt über eine Vielzahl von Zertifizierungen und Zulassungen im Systemumfeld und baut komplexe Funktionstestsysteme exakt nach Kundenanforderung.
Funktionstestplattformen
IPSES Funktionstestplattformen
Gemeinsam mit IPSES, einem „National Instruments Silver Alliance“-Partner, realisieren wir für unsere Kunden maßgeschneiderte Funktionstestlösungen und bieten Dienstleistungen mit technologischem und wirtschaftlichem Mehrwert an. Dabei hat der Kunde die Möglichkeit, entweder das gesamte Projekt, oder auch nur Teile davon, an unsere Mitarbeiter auszulagern.
Leistungsspektrum:
- Projektierung, Design und Definition der gesamten FKT-Systemarchitektur
- Entwicklung der dazugehörenden Firmware, Hardware und Software
- Integration der Hard- und Software, einschließlich Produkte von Drittanbietern
- Umfassende Erfahrung in Nutzung und Integration von NI-Hardware (CompactRIO, sbRIO, PXI, CAN, DAQ, etc.) und Software (LabWindows/CVI, LabView, TestStand)
- Große Auswahl an eigenen Produkten, wie z.B. I/O-Karten, Datenloggerkarten, etc.
- Entwicklung einer kundenspezifischen Benutzeroberfläche
- Entwicklung von Prüfkriterien und Durchführung von Abnahmeprüfungen
- Management von den zum System gehörenden Zertifizierungsprozessen
- Installation und Integration in die Produktionslinien des Kunden
- Serviceunterstützung vor Ort
CT300 Meteor
Modulares Kombinationstestsystem mit Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle
Dr. Eschke CT300 Meteor – Modularer Kombinationstester mit Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle
Die CT300 Meteor lässt sich flexibel in jede beliebige Testumgebung integrieren und kann als MDA-, ICT-, FKT- oder Kombinationstester konfiguriert werden. Das großzügig bemessene Rack lässt den Einbau zahlreicher Optionen zu, um den Prüfumfang genau auf Ihre Produkte abzustimmen.
Hauptmerkmale:
- 19“-Rack mit 21 Steckplätzen, Standard-Flachbandkabel- oder High-Pin-Count-Schnittstelle, bis zu 2.736 ICT-Testpunkte
- Wechseladapterkonzepte
- Ideal für mittlere bis hohe Fertigungsvolumen bei hohen Produktwechselzyklen
- Kürzeste Testzeiten, sehr hoher Durchsatz
- Steuerung von Inline- und Handlingsystemen
- Grosse Auswahl an verschiedenen Analog-, Digital-, Scanner-, I/O- und Funktionstestmodulen
- CAD-Datenimport
- Automatischer Testprogrammgenerator
- Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
- Testabdeckungsanalyse
- Papierlose Reparaturstation
- Zahlreiche Logging- und Statistikfunktionen
- Nutzen- und Multi-Site-Test
- Optionen: Boundary-Scan-Test, OCR, LED-Test, In-System-Programmierung (ISP), kompatible Vakuumschnittstelle zu GenRad GR2280/81, Inline-Version, u. v. m.
Broschüre Dr. Eschke CT300, CT350
CT350 Comet-T
Modulares Kombinationstestsystem mit High-Pin-Count-Schnittstelle
Dr. Eschke CT350 Comet-T – Modularer Kombinationstester mit High-Pin-Count-Schnittstelle
Die Tischversion der CT-350-Serie lässt sich skalierbar als MDA-, ICT-, FKT- oder leistungsfähiger Kombinationstester konfigurieren und ist präzise auf jede Kundenanforderung abstimmbar. Die High-Pin-Count-Pylon-Schnittstelle begünstigt den schnellen Adapterwechsel und sorgt für eine zuverlässige Kontaktierung.
Hauptmerkmale:
- 21 Steckplätze, High-Pin-Count-Schnittstelle, bis zu 2.736 ICT-Testpunkte
- Ideal für mittlere bis hohe Fertigungsvolumen bei hohen Produktwechselzyklen
- Kürzeste Testzeiten, sehr hoher Durchsatz
- Grosse Auswahl an verschiedenen Analog-, Digital-, Scanner-, I/O- und Funktionstestmodulen
- Sehr gutes Preis-/Leistungsverhältnis
- CAD-Datenimport
- Automatischer Testprogrammgenerator
- Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
- Testabdeckungsanalyse
- Papierlose Reparaturstation
- Zahlreiche Logging- und Statistikfunktionen
- Nutzen- und Multi-Site-Test
Optionen: Boundary-Scan-Test, OCR, LED-Test, In-System-Programmierung (ISP), zusätzliches Power-Rack, u. v. m.
Broschüre Dr. Eschke CT300, CT350