SEC SNE-4500MPlus –  Hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM, engl.: SEM) eignet sich hervorragend für die Analyse sehr kleiner Oberflächenstrukturen mit einer Auflösung im Nanometerbereich.
Die Bandbreite der Anwendungsbereiche ist riesig und reicht von F&E/Qualitätssicherung in der Halbleiterindustrie über Materialinspektionen von Kunststoffen, Metallen, Keramik usw. bis hin zu lebensmitteltechnischen und medizinischen Anwendungen und Untersuchungen.

Hauptmerkmale:

• Tischgerät für anspruchsvollste Inspektionsaufgaben
• Auflösung: 5 nm
• Bis zu 150000-fache Vergrößerung
• Beschleunigungsspannungen von 1 kV bis 30 kV
• Detektor: SE (Sekundärelektronenkontrast) und BSE (Rückstreuelektronenkontrast), je nach System
• Zusätzliche CCD-Kamera für einfaches Auffinden des genauen Analyseortes
• Vollmotorisierter Tisch mit 5 verstellbaren Achsen (X: 40 mm, Y: 40 mm, Z: 0 – 40 mm, R: 360º, T: -45º – 90º)
• SEC Software mit Messwerkzeugen für Größe, Winkel und Ausdehnung der Probe
• Dual-View-Modus zur simultanen Anzeige und Speicherung von SE- und BSE-Bildern
• Einfache Bedienung mit Autofokus, Helligkeit und Kontrast.
• Optionen: EDS-Detektor (Energiedispersive Röntgenspektroskopie), EDS-Software und Reporterstellung, Hochvakuumbeschichtungssystem, LVSEM (Niedervakuum-Modus)

Weitere Informationen zu diesem System liefern wir Ihnen gern auf Anfrage.
Bitte beachten Sie, dass wir Oberflächenanalysen auch als Dienstleistung anbieten.